Серия: Полупроводниковые материалы и приборы 1961 г.; Изд-во: М.: Оборонгиз
Предлагаемая вниманию читателей книга "Методы измерения параметров полупроводниковых приборов" входит в серию "Полупроводниковые материалы и приборы", созданную на основе выпущенного в США в 1958 г. трехтомного издания книги Transistor Technology. В на...
Серия: Массовая библиотека инженера. Электроника 1982 г.; Изд-во: М.: Радио и связь
Рассмотрены состав микропроцессорного комплекта интегральных схем (МПК ИС) и особенности структуры микропроцессора. Дан анализ структур выпускаемых промышленностью МПК ИС, приведены их основные параметры и примеры вычислительных устройств с использован...
Серия: Школьнику о математике и информатике 1989 г.; Изд-во: Кишинев: Штиинца
В серии очерков о различных аспектах компьютеризации рассказывается об истории вычислительной техники, выдающихся теоретиках и конструкторах компьютеров, разнообразии современных ЭВМ, интеллектуализации компьютеров, социологических проблемах компьютери...
Серия: Библиотека конструктора-технолога радиоэлектронной аппаратуры 1988 г.; Изд-во: М.: Радио и связь
Рассмотрены конструкции различных микроэлектронных блоков встраиваемой радио- и электронно-вычислительной аппаратуры, методы и алгоритмы автоинтерактивного и интерактивного их конструирования средствами автоматизированных рабочих мест (АРМ) и малых ЭВМ...
Серия: Массовая библиотека инженера 1978 г.; Изд-во: М.: Советское радио
Рассмотрены основные составляющие фотолитографического метода: светочувствительные материалы, собственно технология фотолитографии, применяемое современное оборудование.
Книга рассчитана на широкий круг читателей. Технологи, знакомые с фотолитографи...