Каталог: Школьные учебники »•» Физика, астрономия

	Брандон, Д.; Каплан, У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
	Издательство: М.: Техносфера
	Переплет: твердый; 384 страниц; 2004 г.
	ISBN: 5-94836-018-0; Формат: увеличенный
	Язык: русский
	На сайте с 09.03.2024

Аннотация

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.
Перевод оригинального издания Microstructural Characterization of Materials, David Brandon and Wayne D. Kaplan, John Wiley & Sons, 1999.

В продаже   Хочу купить

Продавец: Dimon777 (Москва, RU/77 )   Состояние: как новое; В продаже с 09.03.2024 Условия доставки и оплаты Способы доставки: встреча по договоренности; самовывоз; почтой по предоплате Способы оплаты: наличными; перевод на банковский счет; банковской картой	Цена 500 руб

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать