LibeX: Книжный интернет магазин. Продать книги. Купить книги

Магазин, где можно не только купить, но и продать книги

Тематический каталог
книгиКниги
периодикаГазеты, журналы

Наука, образование
> Биология, генетика
> Физика, астрономия
> Химия
> Математика, статистика
> Языкознание, иностранные языки
Технологии и инженерия
> Геология, география
> Педагогика
> Экономика
> Литературоведение
> Философия
> Социология, политология
> Психология
> Антропология, этнология
> Археология
> Самообразование
> Сельскохозяйственные науки
> Экология
> Медицина, здоровье
> Другие предметы

На иностранных языках
Серийные
Букинистические
Многотомные


наша кнопка
Поставьте нашу кнопку себе!








Smell  отлично, более 100 оценок  counter
Адрес: 125319, Москва
г. Москва
Российская Федерация
(флаг RU/77)
Был на сайте 15.06.2024
Участник с 24.05.2018
Условия доставки и оплаты:
Способы доставки: почтой по предоплате
Способы оплаты: банковской картой
ОПЛАТА ЗАКАЗОВ:
Наличные, перевод на карту Сбербанк, Тинькофф, СБП
100% предоплата, без наложенного платежа.
Цены указаны без учета почтовый расходов.

ДОСТАВКА ЗАКАЗОВ:

МОСКВА - ОТПРАВКА ПО ПОЧТЕ, САМОВЫВОЗ ВРЕМЕННО ПРИОСТАНОВЛЕН

РЕГИОНЫ РФ - ОТПРАВКА ПО ПОЧТЕ.

ОТПРАВКА ЗА ПРЕДЕЛЫ РФ ... [подробнее]

 В продаже  Куплю  Продано 
    123  на последнюю страницу

             
             
Толанский, Р.: Спектроскопия высокой разрешающей силы 
состояние: хорошее 350 руб
Толанский, Р.
Спектроскопия высокой разрешающей силы
1955 г.; Изд-во: М.: Иностранная литература
 
Данная книга, посвященная описанию аппаратуры и методов работы в области спектроскопии высокой разрешающей силы, отвечает насущной потребности наших исследователей, особенно отчетливо обозначившейся в последние годы в связи с практическим и теоретическ...

Дубицкий, Л.Г.: Радиотехнические методы контроля изделий 
состояние: хорошее 100 руб
Дубицкий, Л.Г.
Радиотехнические методы контроля изделий
1963 г.; Изд-во: М.: Машгиз
 
Изложены физические основы радиотехнических методов контроля размеров и свойств материала изделий.

Мосс, Т.; Баррел, Г.; Эллис, Б.: Полупроводниковая оптоэлектроника 
состояние: хорошее 150 руб
Мосс, Т.; Баррел, Г.; Эллис, Б.
Полупроводниковая оптоэлектроника
1976 г.; Изд-во: М.: Мир
 
В последние годы на стыке радиоэлектроники и физики полупроводников возникла новая область науки и техники - полупроводниковая оптоэлектроника, находящая широкие применения: от фотоприемников до полупроводниковых лазеров. Настоящая книга - первое учебн...

Головина, Н.Я.: Краткий курс лекций по сопротивлению материалов 
состояние: отличное 200 руб
Головина, Н.Я.
Краткий курс лекций по сопротивлению материалов
2009 г.; Изд-во: Тюмень: ТЮМГНГУ
 
Изложены основные понятия и методы сопротивления материалов. Рассмотрены простейшие виды деформаций и сложное сопротивление прямого бруса. Приведены примеры расчета типичных задач. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по на...

Шальнов, В.А.: Шлифование и полирование высокопрочных материалов 
состояние: отличное 400 руб
Шальнов, В.А.
Шлифование и полирование высокопрочных материалов
1972 г.; Изд-во: М.: Машиностроение
 
Изложены результаты теоретических и экспериментальных исследований процесса шлифования деталей точного машиностроения кругами, лентами и неукрепленным абразивом. Дана классификация методов шлифования, рассмотрены некоторые вопросы расчета рабочих цикло...

Загорский, Я.Т.; Котюк, А.Ф.: Основы метрологического обеспечения лазерной энергетической фотометрии 
состояние: хорошее 200 руб
Загорский, Я.Т.; Котюк, А.Ф.
Основы метрологического обеспечения лазерной энергетической фотометрии
1990 г.; Изд-во: М.: стандартов
 
Описаны структурные схемы и основные метрологические характеристики государственных и рабочих эталонов единиц средней мощности и энергии лазерного излучения, основные узлы и блоки эталонов, вносящие наибольший вклад в формирование погрешностей, образцо...

ред. Тамир, Ф.: Интегральная оптика 
состояние: хорошее 120 руб
ред. Тамир, Ф.
Интегральная оптика
Серия: Проблемы прикладной физики
1978 г.; Изд-во: Мир
 
В книге отражены последние достижения в области интегральной оптики,оказавшие существенное влияние на развитие техники связи и методов передачи и обработки информации.Отдельные главы написаны известными американскими учеными в виде статей,которые содер...

Грачев, В.В.; Щербаков, С.Г.; Яковлев, Е.И.: Динамика трубопроводных систем 
состояние: отличное 800 руб
Грачев, В.В.; Щербаков, С.Г.; Яковлев, Е.И.
Динамика трубопроводных систем
1987 г.; Изд-во: М.: Наука
 
Рассмотрены методы определения динамических характеристик трубопроводных систем, рациональные методы анализа наиболее общих случаев неустановившихся режимов их работы, приведены методики оценки фактических параметров трубопроводных систем. Сформулирова...

ред. Герасимов, Н.П.: Исследования в области линейный и угловых измерений 
состояние: отличное 250 руб
ред. Герасимов, Н.П.
Исследования в области линейный и угловых измерений
1983 г.; Изд-во: Л.: Энергоатомиздат
 
Сборник научных трудов Рассматриваются проблемы классической и квантовой метрологии в области линейных и угловых измерений. Приводятся результаты разработки высокоточных средств и методов измерений длин и улов.

Якушенков, Ю.Г.: Оптические системы фотоэлектрических устройств 
состояние: хорошее 150 руб
Якушенков, Ю.Г.
Оптические системы фотоэлектрических устройств
1966 г.; Изд-во: М.: Машиностроение
 
Излагаются основные сведения об оптических системах фотоэлектрических устройств. Описываются отдельные элементы оптических систем, рассматриваются вопросы выбора и расчета оптических деталей применительно к специфике рассматриваемого вопроса. Особое вн...

Санин, А.А: Электронные приборы ядерной физики 
состояние: хорошее 150 руб
Санин, А.А
Электронные приборы ядерной физики
1961 г.; Изд-во: М.: Физматлит
 
В книге рассмотрены различные электронные устройства, наиболее широко при-меняемые в ядерной физике. Приводится большое число конкретных схем и методы их расчета. В конце книги дан справочный материал о некоторых выпускаемых нашей промышленностью элект...

Комраков, Б.М.; Шапочкин, Б.А.: Измерение параметров оптических покрытий 
состояние: хорошее 200 руб
Комраков, Б.М.; Шапочкин, Б.А.
Измерение параметров оптических покрытий
1986 г.; Изд-во: М.: Машиностроение
 
Изложен комплекс вопросов по измерению толщины, показателя преломления, дисперсии и других параметров оптических покрытий, используемых в оптоэлектронике и микроэлектронике. Рассмотрены различные методы измерения. Книга предназначена для инженерно-техн...

    123  на последнюю страницу

 
Первая помощь
>Впервые здесь?
>Как купить
>Как продать
>Зачем регистрироваться
>Платные услуги
еще ...
Поиск на LibeX
 
Название Автор 
расширенный поиск
Поиск на FindBook
findbook лого
 
Название Автор 
 Вход
 Имя:
 Пароль: 
 Запомнить пароль
регистрация
напомнить пароль





 
Индекс цитирования Яndex counter liveinternet.ru