наша кнопка
|
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 350 руб
Толанский, Р. |
Спектроскопия высокой разрешающей силы |
1955 г.; Изд-во: М.: Иностранная литература |
Данная книга, посвященная описанию аппаратуры и методов работы в области спектроскопии высокой разрешающей силы, отвечает насущной потребности наших исследователей, особенно отчетливо обозначившейся в последние годы в связи с практическим и теоретическ... |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 100 руб
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 150 руб
Мосс, Т.; Баррел, Г.; Эллис, Б. |
Полупроводниковая оптоэлектроника |
1976 г.; Изд-во: М.: Мир |
В последние годы на стыке радиоэлектроники и физики полупроводников возникла новая область науки и техники - полупроводниковая оптоэлектроника, находящая широкие применения: от фотоприемников до полупроводниковых лазеров. Настоящая книга - первое учебн... |
![состояние: отличное состояние: отличное](/img/cond/2.gif) 200 руб
Головина, Н.Я. |
Краткий курс лекций по сопротивлению материалов |
2009 г.; Изд-во: Тюмень: ТЮМГНГУ |
Изложены основные понятия и методы сопротивления материалов. Рассмотрены простейшие виды деформаций и сложное сопротивление прямого бруса. Приведены примеры расчета типичных задач. Предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по на... |
![состояние: отличное состояние: отличное](/img/cond/2.gif) 400 руб
Шальнов, В.А. |
Шлифование и полирование высокопрочных материалов |
1972 г.; Изд-во: М.: Машиностроение |
Изложены результаты теоретических и экспериментальных исследований процесса шлифования деталей точного машиностроения кругами, лентами и неукрепленным абразивом. Дана классификация методов шлифования, рассмотрены некоторые вопросы расчета рабочих цикло... |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 200 руб
Загорский, Я.Т.; Котюк, А.Ф. |
Основы метрологического обеспечения лазерной энергетической фотометрии |
1990 г.; Изд-во: М.: стандартов |
Описаны структурные схемы и основные метрологические характеристики государственных и рабочих эталонов единиц средней мощности и энергии лазерного излучения, основные узлы и блоки эталонов, вносящие наибольший вклад в формирование погрешностей, образцо... |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 120 руб
ред. Тамир, Ф. |
Интегральная оптика |
Серия: Проблемы прикладной физики 1978 г.; Изд-во: Мир |
В книге отражены последние достижения в области интегральной оптики,оказавшие существенное влияние на развитие техники связи и методов передачи и обработки информации.Отдельные главы написаны известными американскими учеными в виде статей,которые содер... |
![состояние: отличное состояние: отличное](/img/cond/2.gif) 800 руб
Грачев, В.В.; Щербаков, С.Г.; Яковлев, Е.И. |
Динамика трубопроводных систем |
1987 г.; Изд-во: М.: Наука |
Рассмотрены методы определения динамических характеристик трубопроводных систем, рациональные методы анализа наиболее общих случаев неустановившихся режимов их работы, приведены методики оценки фактических параметров трубопроводных систем. Сформулирова... |
![состояние: отличное состояние: отличное](/img/cond/2.gif) 250 руб
ред. Герасимов, Н.П. |
Исследования в области линейный и угловых измерений |
1983 г.; Изд-во: Л.: Энергоатомиздат |
Сборник научных трудов
Рассматриваются проблемы классической и квантовой метрологии в области линейных и угловых измерений. Приводятся результаты разработки высокоточных средств и методов измерений длин и улов. |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 150 руб
Якушенков, Ю.Г. |
Оптические системы фотоэлектрических устройств |
1966 г.; Изд-во: М.: Машиностроение |
Излагаются основные сведения об оптических системах фотоэлектрических устройств. Описываются отдельные элементы оптических систем, рассматриваются вопросы выбора и расчета оптических деталей применительно к специфике рассматриваемого вопроса. Особое вн... |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 150 руб
Санин, А.А |
Электронные приборы ядерной физики |
1961 г.; Изд-во: М.: Физматлит |
В книге рассмотрены различные электронные устройства, наиболее широко при-меняемые в ядерной физике. Приводится большое число конкретных схем и методы их расчета. В конце книги дан справочный материал о некоторых выпускаемых нашей промышленностью элект... |
![состояние: хорошее состояние: хорошее](/img/cond/3.gif) 200 руб
Комраков, Б.М.; Шапочкин, Б.А. |
Измерение параметров оптических покрытий |
1986 г.; Изд-во: М.: Машиностроение |
Изложен комплекс вопросов по измерению толщины, показателя преломления, дисперсии и других параметров оптических покрытий, используемых в оптоэлектронике и микроэлектронике. Рассмотрены различные методы измерения. Книга предназначена для инженерно-техн... |
|
|